반도체 소켓은 테스트 중인 반도체 장치 (DUT) 와 테스트 장비의 인터페이스를 연결하는 전문 장치로 반도체 구성 요소의 정확하고 효율적인 테스트를 가능하게합니다.소재는 전기 결합DUT의 테스트 또는 검증을 간소화하기 위해 기계 및 열 측면을 단일 조립으로 통합합니다. 반도체 소켓은 테스트 소켓 또는 번인 소켓으로 분류 될 수 있습니다.
테스트 소켓은 반도체 장치의 기능과 성능을 결정하는 데 사용됩니다.테스트 소켓은 초기 반도체 설계에서 최종 생산까지 전체 개발 과정에서 사용할 수 있습니다.테스트 소켓의 특징은 지정된 테스트 요구 사항에 달려 있습니다.
번인 소켓은 전기 기계 장치로 IC에 대한 스트레스를 가속화하고 유아 사망률을 발생시킵니다.반도체 회사가 생산군에서 약한 IC를 제거 할 수 있도록이것은 제조업체가 전자 장치에 통합되기 전에 반도체의 신뢰성과 품질을 보장함으로써 최종 전자 집합의 최소 수명을 연장 할 수 있습니다..연소 테스트는 전반적인 신뢰성을 높이고 전자 제품의 보증 요구 사항을 줄입니다.
크런터는 다양한 포장 문제를 해결하는 독특한 커넥터 제품의 주요 공급 업체로 업계에서 자리 잡았습니다.ZIF 테스트 소켓에서 Correct-A-Chip 어댑터 제품 라인 추가로, 가장 최근에 BGA 및 LGA 소켓에 대한 여러 개념을 개발하고 특허를 취득했으며 고주파 테스트 및 번인 소켓 라인을 획득하여 테스트 소켓 시장의 성장을 촉진했습니다.
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